干涉式同轴 3D 位移测量仪

KEYENCE基恩士   干涉式同轴 3D 位移测量仪  WI-5000 系列 电/微   详询   赵13062644508

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1. 工作原理：采用白光干涉原理，同轴设计，实现高精度 3D 测量。
2. 主要特点：
   • 高速测量：0.13 秒内获取 8 万点数据。
   • 高精度：微米级精度，不受材质、颜色影响。
   • 面测量：无需移动载物台，适合在线全检。
   • 离线检测：配备底座，减少工时。
3. 技术参数：
   • 测量区域：*大 10×10mm。
   • 分辨率：高度、粗糙度等参数的*小显示单位为 0.1μm。
   • 输出接口：多种数字和模拟接口，支持 Ethernet、USB 等。
4. 型号及应用：
   • 控制器型号 WI-5000，支持 1 个测量头。
   • 应用案例包括晶圆检测、BGA 端子高度测量。
5. 环境适应性：
   • 温度范围 0-45°C（DIN 导轨安装）。
   • 防护等级未明确，但提到耐环境光照等。
6. 电气特性：
• 电源 24VDC，电流消耗 2.7A。
• 输出类型包括光 MOSFET、RS-232C、Ethernet 等。