容器组件
分光干涉位移型多层膜厚测量仪
- 产品名称：分光干涉位移型多层膜厚测量仪
- 产品型号：SI-T 系列
- 产品厂商：KEYENCE基恩士
- 产品文档：
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简单介绍
分光干涉位移型多层膜厚测量仪
的详细介绍
KEYENCE基恩士 分光干涉位移型多层膜厚测量仪 SI-T 系列 电/微 详询 赵13062644508
实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。
产品特性
粘附层也可以稳定测量
借助 KEYENCE配备的光量累计功能，
类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。
实现广范围测量
在拉伸制程等过程中，可以应用于上游至下游的各种场所。
KEYENCE基恩士 分光干涉位移型多层膜厚测量仪 SI-T 系列 电/微 详询 赵13062644508
KEYENCE基恩士 分光干涉位移型多层膜厚测量仪 SI-T 系列 电/微 详询 赵13062644508
实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。
产品特性
粘附层也可以稳定测量
借助 KEYENCE配备的光量累计功能，
类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。
实现广范围测量
在拉伸制程等过程中，可以应用于上游至下游的各种场所。
